Пошук :
Довідка :
Електронний каталог : Новіков Сергій Миколайович - Моделювання X-променевих топографічних зображень дефектів у реальних кристалах Si
Новіков Сергій Миколайович - Моделювання X-променевих топографічних зображень дефектів у реальних кристалах Si
Автореферат/Дисертація
Автор: Новіков Сергій Миколайович
Моделювання X-променевих топографічних зображень дефектів у реальних кристалах Si : автореф. дис. ... д-ра фіз.-мат. наук
Видавництво: [б.в.], 2010 г.
ISBN відсутній
Автор: Новіков Сергій Миколайович
Моделювання X-променевих топографічних зображень дефектів у реальних кристалах Si : автореф. дис. ... д-ра фіз.-мат. наук
Видавництво: [б.в.], 2010 г.
ISBN відсутній
(UA) Автореферат
A 163991
Главный филиал
Новіков, Сергій Миколайович.
Моделювання X-променевих топографічних зображень дефектів у реальних кристалах Si : автореф. дис ... д-ра фіз.-мат. наук : 01.04.07 / Сергій Миколайович Новіков; В.о. Чернів. держ. ун-т ім. Ю. Федьковича.– Чернівці : [б.в.], 2010.– 36 с.
100 пр. – На укр. яз.
-- 1. Фізико-математичні науки – Фізика – Фізика твердого тіла.
A 163991
Главный филиал
Новіков, Сергій Миколайович.
Моделювання X-променевих топографічних зображень дефектів у реальних кристалах Si : автореф. дис ... д-ра фіз.-мат. наук : 01.04.07 / Сергій Миколайович Новіков; В.о. Чернів. держ. ун-т ім. Ю. Федьковича.– Чернівці : [б.в.], 2010.– 36 с.
100 пр. – На укр. яз.
-- 1. Фізико-математичні науки – Фізика – Фізика твердого тіла.