Одеська національна наукова бібліотека

Повернутися до сайту ОННБ
Бібліотека працює:
понеділок, вівторок, середа, четвер, субота і неділя – з 10.00 до 18.00
Вихідний день – п’ятниця. Останній четвер місяця – санітарний день

Електронний каталог

Відображає документи,
що надійшли до бібліотеки з 2001 р.

Пошук :

  • Нові надходження
  • Простий пошук

  • Автори
  • Видавництва
  • Серії
  • Тезауруси
  • Індекси УДК

Довідка :

  • Як освоїти пошук в ЕК

  • Приклади оформлення бланка вимоги

  • Перелік наукових спеціальностей

  • Скорочені таблиці УДК українською мовою на веб-сайті UDCS

Електронний каталог : Фізико-технологічні аспекти деградації кремнієвих НВЧ діодів

Фізико-технологічні аспекти деградації кремнієвих НВЧ діодів

Фізико-технологічні аспекти деградації кремнієвих НВЧ діодів
Недоступно
 0 из 1
Книга
Автор:
Фізико-технологічні аспекти деградації кремнієвих НВЧ діодів : монографія
Physico-Technological Aspects of Degradation of Silicon Microwave Diodes
Серія: Проект 'Українська наукова книга іноземною мовою'
Видавництво: Академперіодика, 2011 г.
ISBN 978-966-360-176-2

(UA) Книга
XIII> 61017
710757 Главный филиал

Фізико-технологічні аспекти деградації кремнієвих НВЧ діодів = Physico-Technological Aspects of Degradation of Silicon Microwave Diodes : монографія / Олександр Євгенович Бєляєв, Микола Силович Болтовець, Євген Федорович Венгер, Раїса Василівна Конакова, Ярослав Ярославович Кудрик, НАН України. Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова, ДП "Науково-дослідний ін-т "Оріон"; Під заг. ред. Олександр Євгенович Бєляєв, Раїса Василівна Конакова.– К. : Академперіодика, 2011.– 179, [2] с.– (Проект "Українська наукова книга іноземною мовою")
300 пр.– Бібліогр.: с. 162-180 . – На укр., англ. яз.
ISBN 978-966-360-176-2 : 28.00.

ББК з852.24-01

-- 1. Діоди – Деградація. 2. Фізико-технологічні питання.



© Одеська національна наукова бібліотека 2012—2025