Пошук :
Довідка :
Електронний каталог : Два метода определения четностей низколежащих состояний в ¹⁵⁹Gd из анализа интенсивностей γ-лучей...
Два метода определения четностей низколежащих состояний в ¹⁵⁹Gd из анализа интенсивностей γ-лучей...
Книга
Автор:
Два метода определения четностей низколежащих состояний в ¹⁵⁹Gd из анализа интенсивностей γ-лучей...
Two Methods of Determination of Parities of Low-lying States in¹⁵⁹ Gd from Analysis of γ-Ray Intensities from ¹⁵⁸Gd(nᵣₑₓ, γ) ¹⁵⁹Gd Reaction
Серія: Препринт/Объединенный институт ядерных исследований
Видавництво: ОИЯИ, 2018 г.
ISBN відсутній
Автор:
Два метода определения четностей низколежащих состояний в ¹⁵⁹Gd из анализа интенсивностей γ-лучей...
Two Methods of Determination of Parities of Low-lying States in¹⁵⁹ Gd from Analysis of γ-Ray Intensities from ¹⁵⁸Gd(nᵣₑₓ, γ) ¹⁵⁹Gd Reaction
Серія: Препринт/Объединенный институт ядерных исследований
Видавництво: ОИЯИ, 2018 г.
ISBN відсутній
(UA) Книга
VIII 105553
732672 Главный филиал
Два метода определения четностей низколежащих состояний в ¹⁵⁹Gd из анализа интенсивностей γ-лучей из реакции ¹⁵⁸Gd(nᵣₑₓ, γ) ¹⁵⁹Gd = Two Methods of Determination of Parities of Low-lying States in¹⁵⁹ Gd from Analysis of γ-Ray Intensities from ¹⁵⁸Gd(nᵣₑₓ, γ) ¹⁵⁹Gd Reaction / К. Гранья, J. Kubasta, S. Pospisil, S. A. Telezhnikov, Объединённый ин-т ядерных исследований, Дубна, Россия.– Дубна : ОИЯИ, 2018.– 21,[1] с.– (Препринт/Объединенный институт ядерных исследований; Е3-2018-7)
210 экз.– Библиогр.: с. 22 . – На англ. яз.
VIII 105553
732672 Главный филиал
Два метода определения четностей низколежащих состояний в ¹⁵⁹Gd из анализа интенсивностей γ-лучей из реакции ¹⁵⁸Gd(nᵣₑₓ, γ) ¹⁵⁹Gd = Two Methods of Determination of Parities of Low-lying States in¹⁵⁹ Gd from Analysis of γ-Ray Intensities from ¹⁵⁸Gd(nᵣₑₓ, γ) ¹⁵⁹Gd Reaction / К. Гранья, J. Kubasta, S. Pospisil, S. A. Telezhnikov, Объединённый ин-т ядерных исследований, Дубна, Россия.– Дубна : ОИЯИ, 2018.– 21,[1] с.– (Препринт/Объединенный институт ядерных исследований; Е3-2018-7)
210 экз.– Библиогр.: с. 22 . – На англ. яз.