Пошук :
Довідка :
Електронний каталог : Сичікова, Яна - Підходи до оцінювання якості наноструктур на поверхні напівпровідників
Сичікова, Яна - Підходи до оцінювання якості наноструктур на поверхні напівпровідників
Книга
Автор: Сичікова, Яна
Підходи до оцінювання якості наноструктур на поверхні напівпровідників : монографія
Видавництво: Самченко А. М., 2024 г.
ISBN 978-617-95380-5-6
Автор: Сичікова, Яна
Підходи до оцінювання якості наноструктур на поверхні напівпровідників : монографія
Видавництво: Самченко А. М., 2024 г.
ISBN 978-617-95380-5-6
(UA) Книга
VIII> 45111
944602 Главный филиал
Сичікова, Яна.
Підходи до оцінювання якості наноструктур на поверхні напівпровідників : монографія / Яна Сичікова, Ігор Богданов, Сергій Ковачов, Бердян. держ. пед. ун-т.– Бердянськ; Київ : Самченко А. М., 2024.– 350 с. : рис., табл., схеми
300 пр.– Бібліогр.: с. 308-350 . – На укр. яз.
ISBN 978-617-95380-5-6.
УДК 621.315.59:620.3](02.064)
-- 1. Напівпровідники – Поверхні, наноструктуровані – Монографії. 2. Наноструктури – Монографії.
VIII> 45111
944602 Главный филиал
Сичікова, Яна.
Підходи до оцінювання якості наноструктур на поверхні напівпровідників : монографія / Яна Сичікова, Ігор Богданов, Сергій Ковачов, Бердян. держ. пед. ун-т.– Бердянськ; Київ : Самченко А. М., 2024.– 350 с. : рис., табл., схеми
300 пр.– Бібліогр.: с. 308-350 . – На укр. яз.
ISBN 978-617-95380-5-6.
УДК 621.315.59:620.3](02.064)
-- 1. Напівпровідники – Поверхні, наноструктуровані – Монографії. 2. Наноструктури – Монографії.